前言：电子产品进行高低温冲击试验，一个原因就是测试其经过高低温环境，可能会形成怎样的老化程度。在电子技术行业里这类产品具有很高
电子产品进行高低温冲击试验，一个原因就是测试其经过高低温环境，可能会形成怎样的老化程度。在电子技术行业里这类产品具有很高的集成化，电子产品的结构细微工艺繁杂，因此如果在制造中任何一个环节出现问题都可能带来产品质量问题。这些可能潜伏在产品中的缺陷也许不会一下子出现，但随着使用过程中温度的变化，它可能会立马出现问题。
如果电子产品在生产完成之后本身性能和参数不够好，那么就会在基本试验中出现较大问题，这类产品就直接属于残次品不能出厂了。而对于那些潜在的缺陷和问题，一般的测试方法是检测不出来的，比方说产品出现焊接空洞、匹配不良等问题就可能需要到使用中发现。这时通过高低温冲击试验就显得很有必要，否则要知道潜在缺陷就需要在正常使用达到较长时间之后才会激活，而一旦这时出现问题那显然会带来极大的损失。
高低温冲击试验对于电子产品的检测，主要是通过温度的变化来给其施加压力，使可能出现的故障在检测之后直接被发现。这个作用也同样适用于其他行业的产品，比方说汽车行业中进行试验，就可以将车辆在行车上路之后的高温故障做到提前解决。所以高低温冲击试验的必要性当然是肯定的，高低温冲击试验可以大大降低可能出现的问题，真正让产品优质化。